عضویت 
ورود اعضا
راهنمای خرید
LOADING
طیف سنج فوتوالکترون/ دارای دقت
JPS-9030
چگونه این محصول را خریداری کنم؟
درخواست قیمت
درخواست مشاوره و مدارک فنی
پرسش
خدمات خرید VIP
شما می توانید از سرویس رایگان نمایشگاه استفاده نموده و درخواست خود را مستقیما به شرکت سازنده ارسال نمایید و پس از دریافت قیمت و با ورود اطلاعات به " ماشین محاسبه قیمت ریالی " از قیمت ریالی کالا بصورت تخمینی مطلع شوید . اگر مایلید مکاتبه با شرکت سازنده ، تبادل اطلاعات و دریافت قیمت ارزی و ریالی توسط کارشناسان این مجموعه انجام شود لطفا از این طریق اقدام فرمایید. استفاده از این سرویس مستلزم پرداخت هزینه است . برای دریافت اطلاعات بیشتر با تلفن 41995 تماس حاصل فرمایید.
ادامه
ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
افزودن به لیست علاقه مندی ها
سایر سازندگان این محصول
درخواست قیمت ریالی
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت Jeol در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
مشخصات فنی
-
Domain:
laboratory
-
Domain:
process
-
Other characteristics:
high-sensitivity, high-resolution
-
Other characteristics:
precision
-
Type:
backscatter electron diffraction
-
Type:
photoelectron, X-ray
Features
The JPS-9030 is equipped with a newly-designed user interface that further improves operability and also debuts a sophisticated, new modern and sleek exterior design.
Depth profiling optimized for the application
The newly-developed Kaufman-type etching ion source provides etching rates from 1 nm/min to 100 nm/min (SiO2 equivalent), and allows a wide range of settings. It is capable of depth profiles suitable for any application, from measurements demanding precision to processes that require speed. The mounting of the Kaufman-type etching ion source to the specimen exchange chamber facilitates prevention of contamination of the measurement chamber.
Newly-developed software provides even greater ease-of-use
SpecSurf Ver. 2.0 now incorporates a ribbon-style GUI, offering a user-friendly environment in which all operations can be performed with the mouse. With JEOL’s own automatic qualitative analysis function, it is possible to sequentially perform qualitative, quantitative and chemical state analyses for multiple acquisition points.
Ultra-high surface sensitivity
The JPS-9030 supports techniques like Angle-Resolved XPS (ARXPS) and Total Reflection XPS (TRXPS), and is capable of ultra-high sensitive analysis of the top surfaces of 1 nm (standard measurement method 6 nm or more).
A wealth of options
Monochromatic X-ray sources
Argon gas cluster ion source suitable for organic samples
Infra-red heating system capable up to temperatures of 1,000 °C or higher
Transfer vessel to protect specimens from exposure to the atmosphere
The JPS-9030 is equipped with a newly-designed user interface that further improves operability and also debuts a sophisticated, new modern and sleek exterior design.
Depth profiling optimized for the application
The newly-developed Kaufman-type etching ion source provides etching rates from 1 nm/min to 100 nm/min (SiO2 equivalent), and allows a wide range of settings. It is capable of depth profiles suitable for any application, from measurements demanding precision to processes that require speed. The mounting of the Kaufman-type etching ion source to the specimen exchange chamber facilitates prevention of contamination of the measurement chamber.
Newly-developed software provides even greater ease-of-use
SpecSurf Ver. 2.0 now incorporates a ribbon-style GUI, offering a user-friendly environment in which all operations can be performed with the mouse. With JEOL’s own automatic qualitative analysis function, it is possible to sequentially perform qualitative, quantitative and chemical state analyses for multiple acquisition points.
Ultra-high surface sensitivity
The JPS-9030 supports techniques like Angle-Resolved XPS (ARXPS) and Total Reflection XPS (TRXPS), and is capable of ultra-high sensitive analysis of the top surfaces of 1 nm (standard measurement method 6 nm or more).
A wealth of options
Monochromatic X-ray sources
Argon gas cluster ion source suitable for organic samples
Infra-red heating system capable up to temperatures of 1,000 °C or higher
Transfer vessel to protect specimens from exposure to the atmosphere
