عضویت 
ورود اعضا
راهنمای خرید
LOADING
پرش سنج(دیفرکتومتر) تک کریستال/ پرتوX/ دو طول موجی
XtaLAB R-AXIS
چگونه این محصول را خریداری کنم؟
درخواست قیمت
درخواست مشاوره و مدارک فنی
پرسش
خدمات خرید VIP
شما می توانید از سرویس رایگان نمایشگاه استفاده نموده و درخواست خود را مستقیما به شرکت سازنده ارسال نمایید و پس از دریافت قیمت و با ورود اطلاعات به " ماشین محاسبه قیمت ریالی " از قیمت ریالی کالا بصورت تخمینی مطلع شوید . اگر مایلید مکاتبه با شرکت سازنده ، تبادل اطلاعات و دریافت قیمت ارزی و ریالی توسط کارشناسان این مجموعه انجام شود لطفا از این طریق اقدام فرمایید. استفاده از این سرویس مستلزم پرداخت هزینه است . برای دریافت اطلاعات بیشتر با تلفن 41995 تماس حاصل فرمایید.
ادامه
ادامه
در صورتی که قیمت ارزی محصول را در اختیار دارید پس از عضویت و ورود به سایت می توانید فرم مربوطه را تکمیل و به همراه تصویر پرفورمای شرکت سازنده ارسال نمایید تا کارشناسان ما در اسرع وقت نسبت به محاسبه هزینه های حمل و ترخیص و صدور پیش فاکتور ریالی اقدام نمایند. هزینه استفاده از این سرویس برای هر درخواست 25 یورو می باشد. صنایع معظم در صورت تمایل به استفاده از این خدمات می توانند بدون نیاز به عضویت و پرداخت هزینه درخواست خود را به همراه کپی پرفورمای شرکت سازنده به ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com و یا فاکس 88206264 بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال نمایند.
در صورت عقد قرار داد مبلغ دریافتی به حساب خریدار عودت می شود.
ادامه
افزودن به لیست علاقه مندی ها
سایر سازندگان این محصول
درخواست قیمت ریالی
اگر مجموعه شما جزو صنایع مادر و معظم در فیلد پالایشگاه ، پتروشیمی ، حفاری ، نیروگاه ، معادن و فلزات ، خودروسازی ، تولید مواد غذایی و دارویی و.... می باشد لطفا درخواست خود را بر روی سربرگ به فاکس 88206264 و یا ایمیل enquiry@iranindustryexpo.com بنام شرکت مهندسی و بازرگانی مشگاد ارسال فرمایید.
کارشناسان این مجموعه در اسرع وقت با شما تماس خواهند گرفت .
بازدیدکننده محترم، از اینکه سایت ایران اینداستری را برای منابع یابی انتخاب کرده اید، از شما سپاسگزاریم.
اطلاعاتی برای نماینده شرکت Rigaku Corporation در ایران یافت نشد.
لطفا با انتخاب هر یک از بخش های فوق، درخواست خود را ارسال فرمایید تا توسط واحد بازرگانی ایران اینداستری اکسپو بررسی شود.
مشخصات فنی
Single crystal X-ray diffraction IP-based systems
Structure determination of small molecules and macromolecules
The XtaLAB R-AXIS series of single crystal diffractometers addresses a wide range of sample types, from small molecules to MOFs, to biological macromolecules. The key component that is common for this series of diffractometers is the use of an imaging plate (IP) detector. There are three standard detectors in the XtaLAB R-AXIS series. The R-AXIS IV++ is the most popular IP based diffractometer in the world for macromolecular crystallography and is based on two imaging plates. The R-AXIS RAPID is a very versatile diffractometer that employs a curved imaging plate and partial χ goniometer and is mainly used in small molecule crystallography, charge density studies, powder diffraction and micro-diffraction.
Why the IP detector?
IP technology has been used to measure diffraction data since the 1980’s. It continues to be popular because inexpensive apertures can be made very large relative to electronic detectors and the detectors can be curved so that the capture angle of diffraction is increased. In addition, IP detectors have no electronic dark current and the high dynamic range allows strong and weak reflections to be measured accurately simultaneously. Although IP and electronic detectors are both very reliable, IP detectors have the advantage that they are mechanical and thus field serviceable.
Structure determination of small molecules and macromolecules
The XtaLAB R-AXIS series of single crystal diffractometers addresses a wide range of sample types, from small molecules to MOFs, to biological macromolecules. The key component that is common for this series of diffractometers is the use of an imaging plate (IP) detector. There are three standard detectors in the XtaLAB R-AXIS series. The R-AXIS IV++ is the most popular IP based diffractometer in the world for macromolecular crystallography and is based on two imaging plates. The R-AXIS RAPID is a very versatile diffractometer that employs a curved imaging plate and partial χ goniometer and is mainly used in small molecule crystallography, charge density studies, powder diffraction and micro-diffraction.
Why the IP detector?
IP technology has been used to measure diffraction data since the 1980’s. It continues to be popular because inexpensive apertures can be made very large relative to electronic detectors and the detectors can be curved so that the capture angle of diffraction is increased. In addition, IP detectors have no electronic dark current and the high dynamic range allows strong and weak reflections to be measured accurately simultaneously. Although IP and electronic detectors are both very reliable, IP detectors have the advantage that they are mechanical and thus field serviceable.
